dr inż. Ewelina Bartuzi-Trokielewicz

Zainteresowania badawcze: biometria, przetwarzanie obrazu, DeepFake
Ekspertka w dziedzinie biometrii i uczenia maszynowego, doktor nauk technicznych, absolwentka Politechniki Warszawskiej. Od 2016 pracuje w NASK w Zakładzie Biometrii, od 2024 kieruje Zakładem Analiz Audiowizualnych i Systemów Biometrycznych. Ewelina prowadzi prace naukowe nad metodami rozpoznawania tożsamości ze szczególnym uwzględnieniem biometrii tęczówki, twarzy oraz linii dłoni, a także nad wykrywaniem ataków prezentacyjnych. Dodatkowo zajmuje się metodami widzenia komputerowego, wykrywaniem deepfake’ów, anomalii na zdjęciach, detekcją obiektów i ich śledzeniem. Jej zainteresowania badawcze obejmują szeroko pojęte computer vision i przetwarzanie obrazu – ekstrakcja cech, wykrywanie obiektów, segmentacja obiektów, klasyfikacja zdjęć. Jest autorką kilkunastu artykułów naukowych w wydawnictwach krajowych i zagranicznych.